Treffer: Machine-Learning-Assisted Software Defect Prediction

Ausgabe:
1st ed.
Veröffent­licht:
Cham : Springer, 2026
Vertrieb:
Cham : Springer International Publishing AG
Umfang:
1 Online-Ressource (XII, 448 Seiten)
Format:
E-Book
Sprache:
Englisch
ISBN:
9783032013361 ; 9783032013354 (Sekundärausgabe) ; 9783032013378 (Sekundärausgabe) ; 9783032013385 (Sekundärausgabe)
DOI:
10.1007/978-3-032-01336-1

Zusatz-Informationen