Treffer: Advanced Computing in Electron Microscopy

Titel:
Ausgabe:
2nd ed. 2010
Veröffent­licht:
New York, NY : Springer US, 2010
Vertrieb:
Cham : Springer International Publishing AG
Umfang:
1 Online-Ressource (X, 289 Seiten)
Format:
E-Book
Sprache:
Englisch
Andere Ausgaben:
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Kirkland, Earl J. Advanced Computing in Electron Microscopy. - New York, NY : Springer US, 2010. - ISBN 9781441965325
ISBN:
9781441965332 ; 1441965335 ; 9781441965325 (Sekundärausgabe) ; 9781441965349 (Sekundärausgabe) ; 9781489995094 (Sekundärausgabe)
DOI:
10.1007/978-1-4419-6533-2

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