Treffer: Measuring market risk with value at risk

Titel:

Measuring market risk with value at risk / Pietro Penza ; Vipul K. Bansal

Beteiligt:

Veröffentlicht:

New York, NY [u.a.] : John Wiley, 2001

Umfang:

XIII, 302 S. : graph. Darst.

Format:

Buch

Sprache:

Englisch

Schriftenreihe/Mehrbändiges Werk:

Wiley series in financial engineering

RVK-Notation:

Schlagworte:

ISBN:

0471393134

Zusatz-Informationen