Treffer: Applied logistic regression

Titel:

Applied logistic regression / David W. Hosmer ; Stanley Lemeshow

Beteiligt:

Ausgabe:

2. ed.

Veröffentlicht:

New York [u.a.] : Wiley, 2000

Umfang:

XII, 375 S. : graph. Darst.

Format:

Buch

Sprache:

Englisch

Schriftenreihe/Mehrbändiges Werk:

Wiley series in probability and statistics. Texts and references section

RVK-Notation:

Schlagworte:

ISBN:

0471356328

Zusatz-Informationen