Treffer: Anti-Pattern in Java-Systemen identifizieren und visualisieren ; Identify and visualise anti-patenters in Java systems

Title:
Anti-Pattern in Java-Systemen identifizieren und visualisieren ; Identify and visualise anti-patenters in Java systems
Authors:
Contributors:
Eisenecker, Ulrich W., Baum, David, Universität Leipzig
Publication Year:
2020
Document Type:
Dissertation thesis
Language:
German
Rights:
undefined
Accession Number:
edsbas.22578135
Database:
BASE

Weitere Informationen

Mittels Visualisierung lässt sich Software so darstellen, dass selbst für Laien ein Eindruck von einem Software-System geschaffen wird. Anti-Pattern zeigen Fehler im Design eines solchen Systems; sie zu finden und ebenfalls zu visualisieren ist eine Unterstützung zum Verbessern der Codequalität. Das Qualitätsmanagement-Werkzeug Getaviz der Forschungsgruppe Visual Software Analytics an der Universität Leipzig ermöglicht es, solche Softwarevisualisierungen leicht zu generieren, bietet aktuell aber noch nicht die Möglichkeit, Anti-Pattern im System zu finden oder anzuzeigen. In dieser Arbeit wird gezeigt, wie sich Anti-Pattern in den Daten aus Getaviz-Scans identifizieren lassen und wie sie sich mit Getaviz darstellen lassen. Um Anti-Pattern zu finden, wird eine Methodik angewendet, die nur mit Softwaremetriken arbeitet. Lücken zwischen dem Getaviz-Datensatz und den geforderten Informationen zur Erkennung werden genau beschrieben und geschlossen. Die bestehenden Visualisierungen in Getaviz werden schließlich um eine Ansicht der Anti-Pattern sowie eine Steuerung, um diese Ansicht zu bedienen, erweitert. Damit wird ein guter Eindruck gegeben, wie sich diese Methodik zum Identifizieren von Anti-Pattern in Getaviz integrieren lässt und wie sich Anti-Pattern in Getaviz anzeigen lassen. ; Visualisation makes it possible to present software in such a way as to create an impression of a software system even for non-specialists. Anti-Patters show errors in the design of such a system; it is to be found and visualised to help improve the quality of the code. The Getaviz quality management tool of the Visual Software Analytics Research Group at the University of Leipzig allows such software visualisations to be easily generated, but currently does not yet offer the possibility of finding or displaying anti-patents in the system. This work shows how anti-patters can be identified in Getaviz scan data and how they can be represented with Getaviz. In order to find anti-patents, a methodology that only uses software metrics is ...